N2600
5 in 1 Hochpräzisions-SMU
Präzises 4-Quadranten Source Meter für Halbleitertests bis 1100V/10A mit 6½ Stellen Auflösung.
Die N2600-Serie ist ein hochpräzises, programmierbares Source Meter (SMU), das eine Spannungs- und Stromquelle mit präziser Messtechnik in einem kompakten ½ 19-Zoll 2HE-Gehäuse vereint. Das 1-Kanal-System bietet eine 5-in-1-Lösung zur Messung von Spannung, Strom und Widerstand in einem einzigen Instrument. Es deckt weite Messbereiche von 1 µV bis 1100 V, 10 pA bis 10 A (im Puls-Modus) sowie Widerstände von 10 µΩ bis 200 MΩ ab. Der 4-Quadranten-Betrieb erlaubt den flexiblen Einsatz als Quelle oder Last, wobei eine hohe Genauigkeit mit 6½ Stellen Auflösung und Abtastraten von bis zu 100 ksps erreicht werden. Technische Highlights sind der gepulste Betrieb mit einer minimalen Breite von 150 µs sowie diverse Sweep-Modi zur Kennlinienanalyse. Die Systemintegration erfolgt über standardmäßige LAN- und RS232-Schnittstellen mittels SCPI-Protokoll. Typische Anwendungsgebiete umfassen die Charakterisierung von Halbleitern wie LEDs und MOSFETs, Tests von Nanomaterialien sowie die Analyse von Solarzellen.
Hochpräzises Source Meter (SMU) der Serie N2600: 5-in-1 Lösung für die Halbleiter- und Materialcharakterisierung
Die Serie N2600 ist ein hochpräzises Source Meter für anspruchsvolle Mess- und Prüfaufgaben in Halbleitertechnik, Materialforschung, Sensorik und Leistungselektronik. Als 5-in-1-Lösung vereint das System Spannungsquelle, Stromquelle sowie die präzise Messung von Spannung, Strom und Widerstand in einem kompakten Gerät.
Durch die enge Kopplung von Quelle und Messung reduziert die N2600 Serie die Systemkomplexität, minimiert Latenzen und erhöht die Genauigkeit gegenüber diskreten Einzelgeräten deutlich. Damit eignet sich die Plattform ideal für charakteristische I-V-Messungen, Transientenanalysen, Widerstandsmessungen und automatisierte Halbleiter- oder Materialtests.
Zentrale Anwendervorteile
Industrielle Einsatzbereiche und Applikationen
Validierung von Kennlinien bei Dioden, MOSFETs sowie modernen SiC- und GaN-Leistungshalbleitern in Entwicklung und Produktion.
Präzise Untersuchung elektrischer Eigenschaften von Graphen, Kohlenstoff-Nanoröhren und Nanodrähten mit sehr hoher Auflösung.
Charakterisierung von Photovoltaikzellen, Akkumulatoren und DC-DC-Wandlern für Effizienz- und Verhaltenstests.
Messung von Widerständen, Thermistoren und photoelektrischen Sensoren unter realen Betriebsbedingungen.
Funktionsprinzip und Systemarchitektur
Technische Kerndaten
| Parameter | N2600 Serie | Bemerkung |
|---|---|---|
| Spannungsbereich | Bis 1100 V | Je nach Modell |
| Strombereich DC | Bis 1 A / bis 3 A | Modellabhängig |
| Strombereich Puls | Bis 10 A | Beim Hochleistungsmodell |
| Auflösung | 6½-stellig | Für präzise Source- und Measure-Aufgaben |
| Grundgenauigkeit Spannung | Bis 100 µV | Hochpräzise Messung |
| Grundgenauigkeit Strom | Bis 600 pA | Für sehr kleine Ströme geeignet |
| Widerstandsgenauigkeit | Bis 300 µΩ | Präzise Widerstandsmessung |
| Abtastrate | 100 ksps | Für transiente Analysen |
| Minimale Pulsbreite | 150 µs | Für thermisch kritische Halbleitertests |
| Schnittstellen | LAN, RS232, Digital I/O, Trigger Link | SCPI-konform |
Modellvarianten und Konfigurationsmöglichkeiten
Optimiert für Niederspannungsanwendungen bis 20 V und 1 A für präzise Labor- und Halbleitermessungen.
Universelles Standardmodell für Messaufgaben bis 200 V und 1 A in Entwicklung, Materialforschung und ATE.
Hochvolt-Ausführung für Spannungen bis 1100 V, ideal für Isolations-, Break-Down- und Hochspannungscharakterisierung.
Hochleistungsmodell mit bis zu 3 A DC und 10 A Pulsbetrieb bei 100 V für dynamische und leistungsintensive Prüfaufgaben.
Messverfahren und Automatisierung
Strategischer Mehrwert für industrielle Anwender
Die N2600 Serie konsolidiert fünf Mess- und Source-Funktionen in einem kompakten 2U-System und reduziert dadurch Hardwareaufwand, Verkabelung und Kalibrierkomplexität deutlich. So entstehen wirtschaftliche Vorteile bei gleichzeitig höherer Testzuverlässigkeit und besserer Reproduzierbarkeit.
Durch die hohe Präzision, schnelle Datenerfassung und skalierbaren Modellvarianten eignet sich die Plattform sowohl für Forschungsumgebungen als auch für automatisierte industrielle Prüfsysteme. Damit beschleunigt die N2600 Serie Entwicklungszyklen, verbessert die Aussagekraft der Messdaten und unterstützt eine schnellere Time-to-Market.
Beratung und Kontakt
Sie sind nicht sicher, ob dieses Produkt optimal zu Ihrer Anwendung passt? Wir unterstützen Sie gerne bei der Auswahl der passenden Lösung für Ihre Anforderungen – von der Einzelanwendung bis zur kompletten Systemintegration. Kontaktieren Sie uns bequem über den Live-Chat, das Kontaktformular, per E-Mail oder telefonisch – wir beraten Sie persönlich und praxisnah. Gerne stellen wir Ihnen – je nach Verfügbarkeit – auch ein kostenloses Demogerät zur Evaluierung in Ihrer Testumgebung zur Verfügung, damit Sie das System direkt unter realen Bedingungen testen können.
