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ART.-NR.
Beschreibung
Leistung [P]
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Strom [A]
N23020-06-01

Beschreibung
N23020-06-01 Ultra-hochpräzise 16-Kanal-DC-Quelle, 6 V, 1 A, nA-Strommessung, 2 HE
Leistung [P]
6
Spannung [V]
6
Strom [A]
1
N23020-06-01
N23020-06-01 Ultra-hochpräzise 16-Kanal-DC-Quelle, 6 V, 1 A, nA-Strommessung, 2 HE
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6
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Mehrkanal DC Quelle

Technische Daten

DC Quellen Art

Standard DC Quelle

Autoranging

Mehrkanal

Produktkategorie

DC Stromversorgung

Hochpräzise Mehrkanal-DC-Stromversorgung der Serie N23020 für die Halbleiterprüfung

Die Serie N23020 ist eine programmierbare Mehrkanal-DC-Stromversorgung für hochpräzise Halbleiterprüfungen, Zuverlässigkeitstests und automatisierte Batch-Anwendungen. Mit bis zu 16 Kanälen in einem kompakten 19-Zoll-2HE-Gehäuse kombiniert das System hohe Kanaldichte, präzise Spannungsregelung und integrierte Strommessung für anspruchsvolle Testumgebungen in Entwicklung und Qualitätssicherung.

Die hohe Einstellgenauigkeit von 0,1 mV, die Langzeitstabilität über ausgedehnte Testzeiträume und die nA-nahe Strommessfähigkeit machen die Serie besonders geeignet für HTOL-, LTOL-, ELFR- und Leckstromtests. Damit bietet die N23020 eine skalierbare Plattform für präzise, reproduzierbare und wirtschaftliche Prüfprozesse in der Halbleiterindustrie.

Zentrale Vorteile für die Testzuverlässigkeit

0.1mV
Hohe Spannungspräzision
Die Einstellgenauigkeit von 0,1 mV unterstützt die exakte Charakterisierung empfindlicher Halbleiterstrukturen und präziser Prüfbedingungen.
40ppm
Hohe Langzeitstabilität
Mit 40 ppm pro 1000 Stunden eignet sich die Serie für lang andauernde Zuverlässigkeitstests mit reproduzierbaren Ergebnissen.
16CH
Hohe Kanaldichte
Bis zu 16 Kanäle in 2HE maximieren die Testkapazität pro Rackeinheit und reduzieren den Platzbedarf im Prüffeld.
nA
Feine Strommessung
Die integrierte Messung im sehr kleinen Strombereich ermöglicht präzise Leckstromanalysen direkt am Prüfling.
2mV
Hohe Signalreinheit
Rauschwerte von ≤ 2 mVrms reduzieren Störeinflüsse und unterstützen stabile Messbedingungen für empfindliche Bauteile.
ATE
Effiziente Batch-Tests
Die Kombination aus hoher Kanaldichte und stabiler Regelung steigert den Durchsatz in automatisierten Testumgebungen.

Typische Anwendungsbereiche

HTOL
Halbleiter-Zuverlässigkeitstests

Geeignet für HTOL, LTOL sowie ELFR- und EFR-Verfahren zur Bestimmung von Ausfallraten und Langzeitverhalten.

HAST
Umweltsimulation in Klimakammern

Unterstützt beschleunigte Alterungstests wie HAST und THB unter kontrollierten Temperatur- und Feuchtebedingungen.

LEAK
Leckstrommessung

Präzise Prüfung von Chips und bestückten Leiterplatten zur Erkennung von Isolationsfehlern und kritischen Strompfaden.

BATCH
Automatisierte Serienprüfungen

Ideal für parallele Testreihen mit hoher Wiederholgenauigkeit und reduziertem Verkabelungsaufwand im ATE-Umfeld.

Funktions- und Systembeschreibung

LAN
Lokale und Remote-Steuerung
Die Bedienung erfolgt über Frontpanel sowie über LAN, RS485 und CAN für die Einbindung in automatisierte Prüfarchitekturen.
ISO
Hohe Isolationsfestigkeit
Bis zu 1000 VDC gegen Gehäuse und 500 VDC Kanal-zu-Kanal verbessern die Sicherheit in hochdichten Testaufbauten.
SEQ
Sequence-Editing-Funktion
Bis zu 100 Gruppen von Spannungs- und Stromsequenzen können lokal programmiert werden, um dynamische Testprofile abzubilden.
<100µs
Schnelle Regelstabilisierung
Eine Transient Recovery Time von unter 100 µs gewährleistet stabiles Verhalten auch bei schnellen Lastwechseln.
25ms
Definierte Spannungsdynamik
Kurze Anstiegs- und Abfallzeiten unterstützen reproduzierbare Schaltvorgänge in Testsequenzen und Klimakammeranwendungen.
TEMP
Geringer Temperaturdrift
Der niedrige Temperaturkoeffizient für Spannung und Strom verbessert die Messstabilität auch bei schwankenden Umgebungsbedingungen.

Technische Kerndaten

Parameter N23020 Serie Bemerkung
Spannungsbereich 0–6 V Für präzise Halbleiterprüfungen
Einstellgenauigkeit Spannung 0,001 % + 0,1 mV Auflösung 0,01 mV
Strombereiche 0–1 A und 0–1 mA Zwei Mess- und Arbeitsbereiche
Messgenauigkeit Strom 1 A 0,001 % + 0,5 mA Auflösung 0,01 mA
Messgenauigkeit Strom 1 mA 0,001 % + 0,5 µA Auflösung 0,01 µA
Transient Recovery Time < 100 µs Bei Lastwechsel 10 % auf 90 %
Spannungsanstiegszeit ≤ 25 ms Bei Volllast
Spannungsabfallzeit ≤ 3 ms bis ≤ 10 ms Ohne Last bzw. bei Volllast
Kommunikation LAN, RS485, CAN Für ATE und Systemintegration
Bauform 19 Zoll / 2 HE Kompaktes Mehrkanalsystem
Kühlung Luftgekühlt Front-to-Rear Airflow

Varianten und Konfigurationsmöglichkeiten

16CH
Bis zu 16 Kanäle pro Einheit

Die hohe Integrationsdichte reduziert Rackfläche, Verdrahtungsaufwand und die Komplexität paralleler Testaufbauten.

1A
Hauptstrombereich bis 1 A

Geeignet für Standardversorgungs- und Belastungsszenarien in der Halbleiterprüfung und bei Zuverlässigkeitstests.

1mA
Feinstrombereich bis 1 mA

Unterstützt hochpräzise Leckstrom- und Low-Current-Analysen bei empfindlichen Prüflingen.

100x
Programmierbare Sequenzgruppen

Bis zu 100 Gruppen von Spannungs- und Stromsequenzen ermöglichen flexible Testprofile ohne externe Zusatzhardware.

Integration und Automatisierung

LAN
Flexible Schnittstellenintegration
Mehrere Kommunikationsschnittstellen erleichtern die Einbindung in bestehende ATE-Umgebungen und zentrale Prüfsoftware.
RACK
Weniger Verkabelungsaufwand
Die hohe Kanaldichte reduziert den Aufwand im Vergleich zu Einzelgeräten und minimiert potenzielle Fehlerquellen im Setup.
AUTO
Ideal für automatisierte Testabläufe
Die N23020 Serie ist auf gleichmäßige, skalierbare und reproduzierbare Batch-Tests in industriellen Fertigungsumgebungen ausgelegt.
LOG
Stabile Datengrundlage
Hohe Präzision, niedrige Drift und schnelle Regelung verbessern die Aussagekraft und Vergleichbarkeit von Testergebnissen.
SAFE
Schutz wertvoller Prüflinge
Die Isolations- und Schutzfunktionen helfen, Prototypen und sensible Bauteile während kritischer Testphasen zuverlässig abzusichern.
TCO
Reduzierte Cost-of-Test
Die Kombination aus hoher Integration und integrierter Strommessung kann zusätzliche Messtechnik überflüssig machen und Gesamtkosten senken.

Strategischer Mehrwert für industrielle Anwender

Die Serie N23020 verbindet hohe Integrationsdichte, präzise Spannungsversorgung und feine Strommessung in einer Plattform für moderne Halbleitertests. Dadurch lassen sich parallele Testreihen wirtschaftlich skalieren, ohne Abstriche bei Genauigkeit, Stabilität oder Betriebssicherheit machen zu müssen.

Besonders in lang andauernden Zuverlässigkeitstests, in Klimakammeranwendungen und in automatisierten Batch-Prozessen profitieren Anwender von geringer Drift, hoher Signalreinheit und reduzierter Systemkomplexität. Damit trägt die N23020 Serie zur Senkung der Testkosten und zur Verbesserung der Prüfaussagekraft in Entwicklung und Fertigung bei.

Beratung und Kontakt

Sie sind nicht sicher, ob dieses Produkt optimal zu Ihrer Anwendung passt? Wir unterstützen Sie gerne bei der Auswahl der passenden Lösung für Ihre Anforderungen – von der Einzelanwendung bis zur kompletten Systemintegration. Kontaktieren Sie uns bequem über den Live-Chat, das Kontaktformular, per E-Mail oder telefonisch – wir beraten Sie persönlich und praxisnah. Gerne stellen wir Ihnen – je nach Verfügbarkeit – auch ein kostenloses Demogerät zur Evaluierung in Ihrer Testumgebung zur Verfügung, damit Sie das System direkt unter realen Bedingungen testen können.

Kontaktieren Sie uns

+49 (0) 6205 - 3948-0 info@et-system.de

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