Zum Hauptinhalt springen Zur Suche springen Zur Hauptnavigation springen

Produkte filtern

ART.-NR.
Beschreibung
Leistung [P]
Spannung [V]
Strom [A]
N23010-06-01

Beschreibung
N23010-06-01 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 6 V, 1 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
Leistung [P]
6
Spannung [V]
6
Strom [A]
1
N23010-06-01
N23010-06-01 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 6 V, 1 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
6
6
1
Mehrkanal DC Quelle

Technische Daten

DC Quellen Art

Standard DC Quelle

Autoranging

Mehrkanal

Produktkategorie

DC Stromversorgung

N23010-06-03

Beschreibung
N23010-06-03 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 6 V, 3 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
Leistung [P]
18
Spannung [V]
6
Strom [A]
3
N23010-06-03
N23010-06-03 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 6 V, 3 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
18
6
3
Mehrkanal DC Quelle

Technische Daten

DC Quellen Art

Standard DC Quelle

Autoranging

Mehrkanal

Produktkategorie

DC Stromversorgung

N23010-06-05

Beschreibung
N23010-06-05 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 6 V, 5 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
Leistung [P]
30
Spannung [V]
6
Strom [A]
5
N23010-06-05
N23010-06-05 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 6 V, 5 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
30
6
5
Mehrkanal DC Quelle

Technische Daten

DC Quellen Art

Standard DC Quelle

Autoranging

Mehrkanal

Produktkategorie

DC Stromversorgung

N23010-15-01

Beschreibung
N23010-15-01 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 15 V, 1 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
Leistung [P]
15
Spannung [V]
15
Strom [A]
1
N23010-15-01
N23010-15-01 Programmierbare High-Accuracy-Multichannel-DC-Quelle, 15 V, 1 A, 3 HE, LAN/RS232/CAN
15
15
1
Mehrkanal DC Quelle

Technische Daten

DC Quellen Art

Standard DC Quelle

Autoranging

Mehrkanal

Produktkategorie

DC Stromversorgung

Hochpräzise Mehrkanal-DC-Stromversorgung der Serie N23010 für die Halbleiterprüfung

Die N23010-Serie ist eine spezialisierte Mehrkanal-DC-Stromversorgung für die Halbleiterindustrie und wurde gezielt für anspruchsvolle Langzeittests wie HTOL, LTOL und weitere Zuverlässigkeitsprüfungen entwickelt. Mit bis zu 24 unabhängigen Kanälen in einem 19-Zoll-3HE-Gehäuse kombiniert das System hohe Kanaldichte, sehr gute Signalreinheit und präzise Regelung für reproduzierbare Testbedingungen über lange Zeiträume.

Durch hohe Langzeitstabilität, integrierte µA-Strommessung, galvanisch getrennte Kanäle und schnelle Dynamik eignet sich die Serie ideal für automatisierte Prüfstände, Klimakammeranwendungen sowie Wafer- und Package-Level-Tests. Damit bietet die N23010-Serie eine belastbare Plattform für wirtschaftliche, skalierbare und hochpräzise Halbleiterprüfungen in Entwicklung und Produktion.

Zentrale Vorteile für den Prüfprozess

24CH
Hohe Kanaldichte im 3HE-Format
Bis zu 24 unabhängige Kanäle in nur 3HE reduzieren den Platzbedarf im Testrack und ermöglichen parallele Testläufe mit hoher Prüflingszahl.
µA
Integrierte Leckstromanalyse
Die native Strommessung im µA-Bereich reduziert den Bedarf an externer Messtechnik und vereinfacht hochdichte Testaufbauten.
0.01%
Hohe Präzision
Eine Grundgenauigkeit von 0,01 % sowie präzise Spannungsauflösung unterstützen reproduzierbare Ergebnisse bei empfindlichen Halbleiterstrukturen.
RIP
Hohe Signalreinheit
Die geringe Restwelligkeit schützt empfindliche Prüflinge vor Störeinflüssen und verbessert die Integrität der Messergebnisse.
80ppm
Langzeitstabilität für Dauerläufe
Mit nur 80 ppm Drift über 1000 Stunden bleibt die Testumgebung auch bei langen Burn-in- und Zuverlässigkeitstests innerhalb enger Spezifikationen.
ISO
Umfassende Isolation
Hohe galvanische Trennung zwischen Ausgang, Gehäuse und Kanälen verhindert Erdschleifen und gegenseitige Beeinflussung der Prüflinge.

Typische Anwendungsbereiche

HTOL
Zuverlässigkeitstests

Geeignet für HTOL, LTOL sowie ELFR- und EFR-Verfahren zur Bewertung von Lebensdauer und Ausfallverhalten elektronischer Bauteile.

HAST
Umwelt- und Klimakammerprüfungen

Einsatz in HAST- und THB-Testumgebungen zur elektrischen Überwachung unter beschleunigten Stressbedingungen.

WAF
Wafer- und Package-Level-Tests

Präzise Versorgung einzelner Dies und gebondeter Komponenten zur Analyse von Ruheströmen und Leckströmen.

BMS
Halbleiternahe BMS-Validierung

Durch hohe Präzision und isolierte Kanäle kann das System auch als Batteriezellsimulator in angrenzenden Testumgebungen eingesetzt werden.

Funktions- und Systembeschreibung

LAN
Lokale und Remote-Steuerung
Die Serie unterstützt die Bedienung am Frontpanel sowie die Fernsteuerung über LAN, RS232 und CAN für Labore und automatisierte Produktionsumgebungen.
SEQ
Integrierte Sequenzsteuerung
Bis zu 100 Gruppen von Spannungs- und Stromprofilen können direkt im Gerät erstellt und für komplexe Burn-in- oder Cycling-Tests gespeichert werden.
FAST
Schnelle Regelstabilisierung
Die schnelle Transient Recovery Time unterstützt stabile Spannungsverhältnisse auch bei sprunghaften Lastwechseln des Prüflings.
OVP
Dedizierte Schutzfunktionen
OVP und OCP schützen wertvolle Prüflinge zuverlässig bei Grenzwertüberschreitungen und kritischen Testbedingungen.
TEMP
Hohe Temperaturstabilität
Der geringe Temperaturkoeffizient unterstützt präzise Messergebnisse auch bei wechselnden Umgebungsbedingungen in Klimakammern.
ATE
Optimiert für ATE-Umgebungen
Schnelle Kommunikation, Readback-Funktion und stabile Ausgangswerte machen die Serie ideal für softwaregesteuerte Prüfstände.

Technische Kerndaten

Parameter N23010 Serie Bemerkung
Kanäle Bis zu 24 Unabhängige Ausgänge
Spannungsbereich Bis 15 V Je nach Modell
Max. Strom pro Kanal Bis 5 A Modellabhängig
Einstellauflösung 0,1 mV / 0,1 µA Spannung / Strom
Einstellgenauigkeit 0,6 mV bis 1,5 mV Je nach Spannungsbereich
Transient Recovery Time < 200 µs Für schnelle Lastwechsel
Temperaturkoeffizient 25 ppm/°C Hohe thermische Stabilität
Isolation Ausgang zu Gehäuse Bis 1500 V DC Verbesserte Betriebssicherheit
Isolation Kanal zu Kanal 500 V DC Galvanisch getrennte Kanäle
Bauform 19 Zoll / 3HE Gewicht ca. 17 kg

Modellvarianten und Konfigurationsmöglichkeiten

Modellbezeichnung Spannung Strom Kanäle
N23010-06-01 0–6 V 1 A 24
N23010-06-03 0–6 V 3 A 24
N23010-06-05 0–6 V 5 A 24
N23010-15-01 0–15 V 1 A 24

Integration und Automatisierung

CAN
Schnittstellen für ATE
LAN, RS232 und CAN ermöglichen die nahtlose Einbindung in LabVIEW-basierte oder andere industrielle Testframeworks.
READ
Schnelles Readback
Die schnelle Rücklesung von Messwerten unterstützt kurze Taktzeiten und hohe Effizienz in automatisierten Serienprüfungen.
100x
Lokale Sequenzabarbeitung
Durch die lokale Abarbeitung komplexer Testprofile werden externe Steuerlatenzen reduziert und das Netzwerk entlastet.
RACK
Weniger Verkabelungsaufwand
Die hohe Kanaldichte senkt den Aufwand im Rack und reduziert potenzielle Fehlerquellen in hochintegrierten Prüfsystemen.
LAB
Geeignet für Labor und Produktion
Die Plattform lässt sich flexibel in F&E-Umgebungen, Klimakammern und industrielle Testlinien integrieren.
24/7
Stabil im Dauerbetrieb
Die Architektur ist auf zuverlässigen Langzeiteinsatz mit hoher Messstabilität und geringer Drift ausgelegt.

Strategischer Mehrwert für industrielle Anwender

Die N23010-Serie kombiniert hohe Präzision, starke Integrationsdichte und zuverlässige Langzeitstabilität in einer Plattform für anspruchsvolle Halbleitertests. Dadurch lassen sich die Testkosten senken, Rackflächen effizienter nutzen und gleichzeitig die Aussagekraft von Zuverlässigkeits- und Stressprüfungen verbessern.

Durch die Vielseitigkeit der Plattform, die isolierten Kanäle und die Möglichkeit zur Nutzung in halbleiternahen BMS-Testumgebungen bietet die Serie zudem einen hohen Investitionsschutz. In Verbindung mit lokalem Service und technischer Unterstützung in Deutschland entsteht eine belastbare Lösung für Entwicklung, Validierung und Produktion.

Beratung und Kontakt

Sie sind nicht sicher, ob dieses Produkt optimal zu Ihrer Anwendung passt? Wir unterstützen Sie gerne bei der Auswahl der passenden Lösung für Ihre Anforderungen – von der Einzelanwendung bis zur kompletten Systemintegration. Kontaktieren Sie uns bequem über den Live-Chat, das Kontaktformular, per E-Mail oder telefonisch – wir beraten Sie persönlich und praxisnah. Gerne stellen wir Ihnen – je nach Verfügbarkeit – auch ein kostenloses Demogerät zur Evaluierung in Ihrer Testumgebung zur Verfügung, damit Sie das System direkt unter realen Bedingungen testen können.

Kontaktieren Sie uns

+49 (0) 6205 - 3948-0 info@et-system.de

Mo - Do von 8 - 17 Uhr
Fr von 8 - 15 Uhr

Direkt Kontakt aufnehmen

+49 (0) 6205 - 3948-0 info@et-system.de

Mo - Do von 8 - 17 Uhr
Fr von 8 - 15 Uhr

Direkt Kontakt aufnehmen